Общая информация
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее – микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB Uxe (производитель Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США) внесены в
Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №80056-20.
Информация о поверке
Поиск результатов поверки:
Найдено результатов поверки: 4
Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #
Основные атрибуты |
Номер в госреестре |
80056-20 |
Наименование СИ |
Микроскоп электронно-ионный сканирующий |
Обозначение типа СИ |
Helios G4 PFIB Uxe |
Номер записи |
179342 |
Дата опубликования |
17 января 2021 г. |
Страна и предприятие-изготовитель |
Изготовитель |
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy, США |
Страна |
СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ |
Отсутствует в списке лиц, направивших уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности |
Да |
Предприятие-изготовитель |
Фирма Thermo Fisher Scientific Electron Microscopy |
Общее |
Процедура |
Стандартная |
Сведения о типе СИ |
Заводской номер |
Заводской номер |
9950518 |
Межповерочный интервал |
МПИ |
1 год |
Наличие периодической поверки |
Да |
Дополнительно |
Статус |
Действует |
ООО "Профноватор", г.Челябинск
Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония
Фирма "Phenom-World BV.", Нидерланды
Компания "BBT" Sp.z.o.o., Польша