Общая информация
Микроскопы сканирующие электронные ZEM (далее – микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного анализа (опционально, при комплектации энергодисперсионным рентгеновским спектрометром).
Микроскопы сканирующие электронные ZEM (производитель Фирма "ZepTools Technology Co., Ltd.", Китай) внесены в
Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №91215-24.
Информация о поверке
Поиск результатов поверки:
Найдено результатов поверки: 4
Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #
Основные атрибуты |
Номер в госреестре |
91215-24 |
Наименование СИ |
Микроскопы сканирующие электронные |
Обозначение типа СИ |
ZEM |
Номер записи |
193107 |
Дата опубликования |
2 февраля 2024 г. |
Страна и предприятие-изготовитель |
Изготовитель |
Фирма "ZepTools Technology Co., Ltd.", Китай |
Общее |
Процедура |
Стандартная |
Сведения о типе СИ |
Срок свидетельства |
Срок свидетельства |
1 февраля 2029 г. |
Межповерочный интервал |
МПИ |
1 год |
Наличие периодической поверки |
Да |
Дополнительно |
Статус |
Действует |
Фирма "NanoFocus AG", Германия
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Фирма Thermo Fisher Scientific, США
Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония