Общая информация
Дифрактометры рентгеновские XD-2 (далее – дифрактометры) предназначены для измерений углов дифракции и последующего анализа углового распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных на поликристаллических объектах при решении задач рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа материалов в виде порошков, пленок, твердых образцов и гелей.
Дифрактометры рентгеновские XD-2 (производитель Фирма "Beijing Purkinje General Instrument Co., Ltd.", Китай) внесены в
Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №91476-24.
Информация о поверке
Поиск результатов поверки:
Найдено результатов поверки: 1
Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #
Основные атрибуты |
Номер в госреестре |
91476-24 |
Наименование СИ |
Дифрактометры рентгеновские |
Обозначение типа СИ |
XD-2 |
Номер записи |
193362 |
Дата опубликования |
4 марта 2024 г. |
Страна и предприятие-изготовитель |
Изготовитель |
Фирма "Beijing Purkinje General Instrument Co., Ltd.", Китай |
Общее |
Процедура |
Стандартная |
Сведения о типе СИ |
Срок свидетельства |
Срок свидетельства |
1 марта 2029 г. |
Межповерочный интервал |
МПИ |
1 год |
Наличие периодической поверки |
Да |
Дополнительно |
Статус |
Действует |
Фирма "PANalytical B.V.", Нидерланды
Фирма "Thermo Fisher Scientific (Ecublens) SARL", Швейцария
АО "Научные приборы", г.С.-Петербург
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия