Общая информация
Микроскопы сканирующие зондовые НаноСкан-3Д (далее – микроскопы) предназначены для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, а также для измерений геометрических характеристик отпечатков в заданных точках поверхности после индентирования с измеренной силой.
Микроскопы сканирующие зондовые НаноСкан-3Д (производитель Федеральное государственное бюджетное научное учреждение «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов» (ФГБНУ ТИСНУМ), г. Москва, г. Троицк) внесены в
Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №41675-09.
Информация о поверке
Поиск результатов поверки:
Найдено результатов поверки: 8
Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #
Основные атрибуты |
Номер в госреестре |
41675-09 |
Наименование СИ |
Микроскопы сканирующие зондовые |
Обозначение типа СИ |
НаноСкан-3Д |
Номер записи |
Нет данных |
Дата опубликования |
Нет данных |
Страна и предприятие-изготовитель |
Изготовитель |
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов» (ФГБНУ ТИСНУМ), г. Москва, г. Троицк |
Общее |
Процедура |
Стандартная |
Сведения о типе СИ |
Срок свидетельства |
Срок свидетельства |
1 ноября 2029 г. |
Межповерочный интервал |
МПИ |
2 года |
Наличие периодической поверки |
Да |
Дополнительно |
Статус |
Действует |
Микроскопы сканирующие зондовые Solver HV, Solver HV-MFM, Solver SNOM, Smena, Solver PRO, Solver PRO-M, Solver FD, Solver P47-PRO, Solver PRO-EC, Solver MFM, Solver BIO-M, Solver OPEN
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды