Общая информация
Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов (далее по тексту – система лазерная) предназначена для измерений с пикосекундным и фемтосекундным временным разрешением соответственно нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка, отвечающих за процесс самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниковых образцах, представляющих собой тонкие пленки толщиной от 5 до 100 мкм.
Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов (производитель ФГУП МГУ им.М.В.Ломоносова, г.Москва) внесены в
Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №48500-11.
Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #
| Основные атрибуты |
| Номер в госреестре |
48500-11 |
| Наименование СИ |
Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов |
| Номер записи |
137585 |
| Дата опубликования |
8 мая 2018 г. |
| Страна и предприятие-изготовитель |
| Изготовитель |
ФГУП МГУ им.М.В.Ломоносова, г.Москва |
| Страна |
РОССИЯ |
| Населенный пункт |
г.Москва |
| Отсутствует в списке лиц, направивших уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности |
Да |
| Предприятие-изготовитель |
ФГУП МГУ им.М.В.Ломоносова |
| Общее |
| Процедура |
Стандартная |
| Сведения о типе СИ |
Заводской номер |
| Заводской номер |
зав.№ 001 |
| Межповерочный интервал |
| МПИ |
1 год |
| Наличие периодической поверки |
Да |
| Дополнительно |
| Статус |
Действует |
