Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEM

Общая информация

Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее – микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондового рентгеноспектрального микроанализа и регистрации и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов.

Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEM (производитель Фирма "FEI Company", США) внесены в Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №62122-15.

Информация о поверке

Поиск результатов поверки:

Найдено результатов поверки: 5

Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #

Основные атрибуты
Номер в госреестре	62122-15
Наименование СИ	Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов
Обозначение типа СИ	Verios 460 XНR SEM
Номер записи	153192
Дата опубликования	8 мая 2018 г.

Страна и предприятие-изготовитель
Изготовитель	Фирма "FEI Company", США

Общее
Процедура	Стандартная
Сведения о типе СИ	Заводской номер
Заводской номер	зав.№ 9923332

Межповерочный интервал
МПИ	1 год
Наличие периодической поверки	Да

Дополнительно
Статус	Действует

Микроскопы 205

57150-14

Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT

Фирма "Carl Zeiss", Германия

Подробнее

76632-19

Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000

Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония

Подробнее

79845-20

Микроскопы измерительные Walter UHL

Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co.KG, Германия

Подробнее

12129-20

Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100x50, А

Акционерное общество "Новосибирский приборостроительный завод" (АО "НПЗ"), г. Новосибирск

Подробнее

< Запись №62121-15

Запись №62123-15 >