Общая информация
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 ( далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным ионным пучком.
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (производитель Фирма "FEI Ltd.", США) внесены в
Государственный реестр средств измерений (ГРСИ РФ) рег. №69048-17.
Информация о поверке
Поиск результатов поверки:
Найдено результатов поверки: 4
Информация из Госреестра
(ФГИС "АРШИН") #
Основные атрибуты |
Номер в госреестре |
69048-17 |
Наименование СИ |
Микроскоп электронно-ионный растровый |
Обозначение типа СИ |
Helios NanoLab 650 |
Номер записи |
160761 |
Дата опубликования |
8 мая 2018 г. |
Страна и предприятие-изготовитель |
Изготовитель |
Фирма "FEI Ltd.", США |
Страна |
СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ |
Отсутствует в списке лиц, направивших уведомление о начале осуществления предпринимательской деятельности |
Да |
Предприятие-изготовитель |
Фирма "FEI Ltd." |
Общее |
Процедура |
Стандартная |
Сведения о типе СИ |
Заводской номер |
Заводской номер |
зав.№ D-9960 |
Межповерочный интервал |
МПИ |
1 год |
Наличие периодической поверки |
Да |
Дополнительно |
Статус |
Действует |
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение «Технологический институт сверхтвердых и новых …
Фирма "JEOL Ltd.", Япония